SoC測試系統 3650系列
VLSI 測試系統
4000 多功能焊接強度測試儀
半自動切割機:SS30
探針臺:UF200R
半自動切割機:SS20
SVF NEX
探針臺:UF190R
半自動切割機:SS10
O-SELECT
mju NEX
探針臺:UF2000
半自動切割機:AD20T/S
Opt-scope
SVA NEX
探針臺:FP2000
全自動高剛性雙軸研磨盤 :HRG200X
切割機:AD2000T/S
Opt-measure
FUSION NEX
探針臺:UF3000EX
高剛性研磨盤:HRG300/HRG300A
晶圓邊緣研磨機:W-GM-6200
ChaMP: 晶圓對應
拋光研磨機:PG3000RMX
切割機:AD3000T
輻射劑量測量系統 microSTAR?ii System
X射線質量評估系統RaySafe X2
多功能輻射測量儀 RaySafe 452
A系列XRF
W系列XRF
G系列XRF
K系列XRF
Model Ecdm-100EC/400EC/800EC
Model 7000X-E
Model 7000X-L
Model 7000B-E
Model Ecdm-400S-TLP
Model Ecdm-400EC
Model 7000B-L
Model 1200E
Model 4002/4012
Model Ecdm-400SW
Model 1200EL
Model 1200EC
MODEL 1100-ESD